Отрицательная анизотропия в пленках Ni–Fe
- Авторы: Савин П.А.1, Аданакова О.А.1, Лепаловский В.Н.1, Кудюков Е.В.1, Васьковский В.О.1,2
 - 
							Учреждения: 
							
- Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани “Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”
 - Федеральное государственное бюджетное учреждение науки “Институт физики металлов имени М.Н. Михеева” Уральского отделения Российской академии наук
 
 - Выпуск: Том 87, № 4 (2023)
 - Страницы: 500-503
 - Раздел: Статьи
 - URL: https://clinpractice.ru/0367-6765/article/view/654424
 - DOI: https://doi.org/10.31857/S0367676522700880
 - EDN: https://elibrary.ru/NLMHKW
 - ID: 654424
 
Цитировать
Полный текст
Аннотация
Получены пленки FeNi, обладающие эффектом “отрицательной анизотропии”, заключающемся в формировании наведенной анизотропии перпендикулярно полю осаждения. Протестирована ранее предложенная модель эффекта, основанная на отрицательной магнитострикции и неоднородных напряжениях. Влияние дополнительных напряжений анализировалось по изменяющейся форме R–H кривых. Изменения анизотропии согласуются с моделью.
Об авторах
П. А. Савин
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани“Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: Peter.Savin@urfu.ru
				                					                																			                												                								Россия, Екатеринбург						
О. А. Аданакова
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани“Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”
														Email: Peter.Savin@urfu.ru
				                					                																			                												                								Россия, Екатеринбург						
В. Н. Лепаловский
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани“Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”
														Email: Peter.Savin@urfu.ru
				                					                																			                												                								Россия, Екатеринбург						
Е. В. Кудюков
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани“Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”
														Email: Peter.Savin@urfu.ru
				                					                																			                												                								Россия, Екатеринбург						
В. О. Васьковский
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образовани“Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина”; Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики металлов имени М.Н. Михеева” Уральского отделения Российской академии наук
														Email: Peter.Savin@urfu.ru
				                					                																			                												                								Россия, Екатеринбург; Россия, Екатеринбург						
Список литературы
- Blois M.S. // J. Appl. Phys. 1955. V. 26. P. 975.
 - Jogschies L., Klaas D., Kruppe R. et al. // Sensors. 2015. V. 15. Art. No. 28665.
 - Smith D.O. // Appl. Phys. Lett. 1963. V. 2. P. 191.
 - Soohoo R.F. // Czech. J. Phys. 1971. V. 21. P. 494.
 - Savin P.A., Adanakova O.A., Lepalovskij V.N. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2019. V. 1389. Art. No. 012122.
 - Лесник А.Г. Индуцированная магнитная анизотропия. Киев: Наукова думка, 1976. 160 с.
 - Miyazaki T., Oomori T., Sato F. et al. // J. Magn. Magn. Mater. 1994. V. 129. Art. No. L135.
 - Савин П.А., Васьковский В.О., Кандаурова Г.С., Лепаловский В.Н. // Микроэлектроника. 1991. Т. 20. С. 407.
 - Maissel L.I., Glang R. Handbook of thin film technology. N.Y.: McGraw Hill, 1970.
 - Zhukov A., González J., Blanco M. et al. // J. Mater. Res. 2000. V. 15. P. 2107.
 
Дополнительные файлы
				
			
						
						
						
					
						
									







