Синтез тонких пленок алюмомагниевой шпинели реакционным анодным испарением Al и Mg

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Исследованы структура и свойства пленок алюмомагниевой шпинели, полученных реактивным анодным испарением Al и Mg из отдельных тиглей в дуге низкого давления (Ar/O2 смесь при 0.7–1.2 Па) и осаждением паров на подложку при 400–600°C. Ток разряда с полым самонакаливаемым катодом распределялся между анодом (10–30 А) и тиглями с Mg (0.8–1.6 А) и Al (4–16 А), что обеспечивало независимое изменение скорости осаждения пленок, плотности плазмы, парциальных давлений паров металлов и концентраций элементов в пленках. Снижение скорости окисления Mg и стабилизация процесса испарения достигнуты повышением плотности мощности электронного потока на поверхности Mg внутри тигля и переходом из режима сублимации в режим испарения из жидкого состояния путем уменьшения апертуры тигля из Mg. Высокая плотность потока паров Mg в малой апертуре препятствует поступлению кислорода внутрь тигля. Температура кристаллизации шпинели в условиях бомбардировки растущей пленки ионами с энергией 25–100 эВ при плотности тока 2 мА/см2 составила ~400°C. Пленки охарактеризованы методами растровой электронной микроскопии, рентгенофазового анализа и микротвердометрии. Пленки кубической шпинели имели сильную текстуру (100) и уровень искажений кристаллической решетки ~1%. Скорость осаждения пленок нестехиометрической шпинели с регулируемым в пределах 1.2–2.4 относительным содержанием атомов Al и Mg составляла 1–3 мкм/ч.

Об авторах

Н. В. Гаврилов

Институт электрофизики УрО РАН; Уральский федеральный университет

Автор, ответственный за переписку.
Email: gavrilov@iep.uran.ru
Россия, Екатеринбург; Екатеринбург

Д. Р. Емлин

Институт электрофизики УрО РАН

Email: erd@iep.uran.ru
Россия, Екатеринбург

А. И. Медведев

Уральский федеральный университет

Email: gavrilov@iep.uran.ru
Россия, Екатеринбург

П. А. Скорынина

Институт машиноведения имени Э.С. Горкунова УрО РАН

Email: gavrilov@iep.uran.ru
Россия, Екатеринбург

Список литературы

  1. Гаврилов Н.В., Каменецких А.С., Емлин Д.Р., Третников П.В., Чукин А.В. // Журнал технической физики. 2019. Т. 89. № 6. С. 867. https://www.doi.org/10.21883/JTF.2019.06.47632.214-18
  2. Каменецких А.С., Гаврилов Н.В., Третников П.В., Чукин А.В., Меньшаков А.И., Чолах С.О. // Известия Вузов. Физика. 2020. Т. 63. № 10. С. 144. https://www.doi.org/10.17223/00213411/63/10/144
  3. Ahmad S.M., Hussain T., Ahmad R., Siddiqui J., Ali D. // Mater. Res. Express. 2018. № 5. P. 016415. https://www.doi.org/10.1088/2053-1591/aaa828
  4. Ganesh I. // Int. Mater. Rev. 2013. V. 58. № 2. P. 63. https://www.doi.org/10.1179/1743280412Y.0000000001
  5. Zhang J., Stauf G.T., Gardiner R., Buskirk P.V., Steinbeck J. // J. Mater. Res. 1994. V. 9. № 6. P. 1333. https://www.doi.org/10.1557/JMR.1994.1333
  6. Putkonen M., Nieminen M., Niinisto L. // Thin Solid Films. 2004. V. 466. P. 103. https://www.doi.org/10.1016/j.tsf.2004.02.078
  7. Станчик А.В., Гременок В.Ф., Труханова Е.Л., Хорошко В.В., Сулейманов С.Х., Дыскин В.Г., Джанклич М.У., Кулагина Н.А., Амиров Ш.Е. // Computational Nanotechnology. 2022. V. 9. № 1. P. 125. https://www.doi.org/10.33693/2313-223X-2022-9-1-125-131
  8. Wang Y., Xie X., Zhu C. // ACS Omega. 2022. V. 7. P. 12617. https://www.doi.org/10.1021/acsomega.1c06583
  9. Saraiva M., Georgieva V., Mahieu S., van Aeken K., Bogaerts A., Depla D. // J. Appl. Phys. 2010. № 7. Р. 034902. https://www.doi.org/10.1063/1.3284949
  10. Honig R.E. // RCA Rev. 1957. V. 18. P. 195.
  11. Depla D., Mahieu S. Reactive sputter deposition. Springer Series in Materials Science. Berlin Heidelberg: Springer-Verlag, 2008. 584 р. https://www.doi.org/10.1007/978-3-540-76664-3
  12. Гаврилов Н.В., Каменецких А.С., Паранин С.Н., Спирин А.В., Чукин А.В. // Приборы и техника эксперимента. 2017. № 5. C. 136. https://www.doi.org/10.7868/S0032816217040152
  13. Eriksson K.B.S., Isberg H.B.S. // Ark. Fys. 1963. V. 23. Iss. 47. P. 527.
  14. Meißner K.W. // Ann. Phys. 1938. V. 423. P. 505.
  15. Зимон А.Д. Адгезия пленок и покрытий. Москва: Химия, 1977. 352 с.
  16. TOPAS V. 3.0 (2005) Brucker AXS GmbH, Karlsruhe. www. bruker-axs.de
  17. Domanski D., Urretavizcaya G., Castro F.J., Gennari F.C. // J. Am. Ceram. Soc. 2004. V. 87. № 11. P. 2020. https://www.doi.org/10.1111/j.1151-2916.2004.tb06354.x
  18. Georgieva V., Saraiva M., Jehanathan N., Lebelev O.I., Depla D., Bogaerts A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2009. V. 42. P. 065107. https://www.doi.org/10.1088/0022-3727/42/6/065107
  19. Henkelman G., Uberuaga B.P., Harris D.J., Harding J.H., Allan N.L. // Phys. Rev. B: Condens. Matter. 2005. V. 72. P. 115437. https://www.doi.org/10.1103/PhysRevB.72.115437
  20. Yusupov M., Saraiva M., Depla D., Bogaerts A. // New J. Phys. 2012. V. 14. P. 073043. https://www.doi.org/10.1088/1367-2630/14/7/073043.
  21. Dash S., Sahoo R.K., Das A., Bajpai S., Debasish D., Saroj K.S. // J. Alloys Compd. 2017. V. 726. P. 1186. https://www.doi.org/10.1016/j.jallcom.2017.08.085
  22. Shou-Yong J., Li-Bin L., Ning-Kang H., Jin Z., Yong L. // J. Mater. Sci. Lett. 2000. V. 19. P. 225. https://www.doi.org/10.1023/A:1006710808718
  23. Шеховцов В.В., Скрипникова Н.К., Улмасов А.Б. // Вестник ТГАСУ. 2022. Т. 24. № 3. C. 138. https://www.doi.org/10.31675/1607-1859-2022-24-3-138-146
  24. Murphy S.T., Gilbert C.A., Smith R., Mitchell T.E., Grimes R.W. // Philosophical Magazine. 2010. V. 90. № 10. Р. 1297. https://www.doi.org/10.1080/14786430903341402

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Российская академия наук, 2024